目次
1 回折の基礎(波動の表記法;回折積分と点像分布;キルヒホッフ回折積分とスカラー結像理論)
2 スカラー回折理論における結像(アッベの結像理論と正弦条件;コヒーレント結像 ほか)
3 収差の考慮(波面収差;波面収差の計算方法;Zernike多項式による波面収差の表現法;波面収差の計測方法;偏光特性を考慮した結像)
4 ベクトル回折理論における結像(スカラー回折理論の限界;物体面におけるベクトル回折 ほか)
5 光学的超解像(超解像の定義と分類;コントラスト向上技術 ほか)
付録
著者等紹介
渋谷眞人[シブヤマサト]
1953年埼玉県に生まれる。1977年東京工業大学大学院理工学研究科修士課程修了。日本光学工業株式会社(現(株)ニコン)を経て、東京工芸大学工学部教授。博士(工学)
大木裕史[オオキヒロシ]
1954年愛知県に生まれる。1979年東京工業大学大学院理工学研究科修士課程修了。現在、(株)ニコンコアテクノロジーセンター光学技術本部光技術開発部ゼネラルマネジャー、ニコンフェロー。工学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)