TOEICテスト直前対策模試/早川幸治/ロス・タロック
著:早川幸治 著:ロス・タロック
出版社:語研
発売日:2016年07月
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著者名:
早川幸治 ロス・タロック 出版社名:
語研
模擬問題1回分(200問)のPractice Test編と、解答・解説をまとめたAnswer Key編の2部構成。なぜ間違えたのか、どのようなひっかけにつまずいたのか、しっかりと自己評価を行うことで、同じ誤りを繰り返さないための知識と技術を身につけることができます。
※本データはこの商品が発売された時点の情報です。